Nanogouttes en conditions extrêmes

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Le groupe Interactions Particules Matière (IPM) étudie la dynamique hors équilibre d’agrégats moléculaires sous irradiation. Les agrégats de molécules sont présents dans l’atmosphère terrestre comme dans le contexte astrophysique. Observer les interactions entre molécules en conditions extrêmes, c’est à dire à basse température et soumises aux
rayonnements, permet d’accéder aux premières étapes de la formation des aérosols atmosphériques comme à celles de la formation des molécules prébiotiques nécessaires à l’apparition du vivant.

Pour observer les processus mis en jeu à cette échelle du nanomètre, l’équipe a construit à l’IP2I la plate-forme DIAM (Dispositif d’Irradiation d’Agrégats Moléculaires). Ce « goutte à goutte » d’une grande précision permet d’observer, nanogoutte par nanogoutte la thermalisation qui suit l’irradiation, la répétition permettant d’effectuer des analyses
statistiques. Ces nanogouttes sont des petits systèmes modèles composés d’un nombre contrôlé de molécules d’intérêt. Les premières expériences sur les nanogouttes d’eau pure ont permis la découverte de l’évaporation de molécules à haute vitesse avant complète thermalisation dans la nanogoutte.

DIAM est ainsi une sonde des mécanismes de thermalisation à l’échelle du nanomètre qui sous-tendent des phénomènes observés à l’échelle de la planète.

Les activités du groupe IPM portent sur l’étude de la thermalisation dans une nanogoutte dans le cadre de projets développés auprès de la plateforme DIAM et menés en collaboration avec le LIphy de Grenoble (laboratoire Interdisciplinaire de Physique), le LGL-TPE (Laboratoire de Géologie de Lyon – Terre Planète Environnement), l’Institut « für Ionenphysik und Angewandte Physik » de l’Université d’Innsbruck et le Laboratoire « Atomic and Molecular Physics » de RIKEN.

  • Thermalisation dans une nanogoutte d’eau pure
  • Thermalisation dans une nanogoutte d’eau dopée avec une molécule de pyridine
  • Thermalisation dans une nanogoutte de méthanol
  • Réponse de radiosensibilisateurs à différents types de rayonnement
  • Plate-forme DIAM
  • DIAM-Détecteur COINTOF-VMI
  • DIAM Faisceaux de nanogouttes
  • DIAM Protons
  • DIAM Cryostat
  • Formation par la recherche

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PERMANENTS:

NON-PERMANENTS:

- DOCTORANTS / DOCTORAL STUDENTS:


    8681 documents

    • M. Meyer. Noyaux loin de la vallée de stabilité excitations individuelles et collectives à basse énergie. École thématique. Ecole Joliot Curie "Structure nucléaire aux frontières de la stabilité", Bombannes, (France), du 12-16 septembre 1983 : 2ème session, 1983. ⟨cel-00638223⟩
    • A. Clouvas, M.J. Gaillard, A.G. De Pinho, J.-C. Poizat, J. Remillieux, et al.. Simultaneous study of non-equilibrated charge and excitation states of MeV/amu light atomic and molecular ions emerging from thin solid targets. International Conference On Atomic Collisions In Solids 10, Jul 1983, Bad Iburg, Germany. pp.273-279. ⟨in2p3-00023037⟩
    • I. Berkes, G. Marest, J. Sau, E.H. Sayouty, P. Put, et al.. The quadrupole moments of ^{195-197} Au^m(11/2) and the low temperature thermal relaxation of gold in cadmium. International Conference On Hyperfine Interactions 6, Jul 1983, Groningen, Netherlands. pp.233-236. ⟨in2p3-00015255⟩
    • I. Berkes, G. Marest, E.H. Sayouty. The sign of the magnetic moment of ^{191}Pt(g.s) determined by moessbauer effect on oriented nuclei. International Conference On Hyperfine Interactions 6, Jul 1983, Groningen, Netherlands. pp.983-986. ⟨in2p3-00015256⟩
    • M. Robelet, J. Tousset, N. Moncoffre, S. Fayeulle, D. Treheux, et al.. Nitrogen ions implantation - manufacturing applications. Colloquium On Metallurgy 26, Jun 1983, Saclay, France. pp.319-322. ⟨in2p3-00004668⟩
    • M. Robelet, T. Barnavon, J. Tousset, S. Fayeulle, D. Treheux, et al.. Improvement of material properties by ion implantation. Colloquium On Metallurgy 26, Jun 1983, Saclay, France. pp.305-309. ⟨in2p3-00004669⟩
    • J. Tousset, T. Barnavon, S. Fayeulle, D. Treheux, P. Guiraldenq, et al.. Nitrogen ions implanted into steels: distribution as a function of fluence. Colloquium On Metallurgy 26, Jun 1983, Saclay, France. pp.315-318. ⟨in2p3-00004667⟩
    • J.-P. Thomas, M. Fallavier, D. Ramdane, N. Chevarier, A. Chevarier. High resolution depth profiling of light elements in high atomic mass materials. International Conference On Ion Beam Analysis 6, May 1983, Tempe, United States. pp.125-128. ⟨in2p3-00004065⟩
    • J.-P. Thomas, M. Fallavier, H. Carchano, L. Alimoussa. Ion beam analysis techniques and characterization of amorphous hydrogenated gaas. International Conference On Ion Beam Analysis 6, May 1983, Tempe, United States. pp.579-583. ⟨in2p3-00004066⟩
    • A. Chevarier, N. Chevarier. Time of flight spectrometry in heavy ion backscattering analysis. International Conference On Ion Beam Analysis 6, May 1983, Tempe, United States. pp.1-5. ⟨in2p3-00022995⟩

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